माइक्रोफोकस सीटी स्कैनर

माइक्रोफोकस सीटी स्कैनर छोटे, जटिल घटकों के लिए उच्च परिशुद्धता गैर-विनाशकारी परीक्षण प्रदान करता है। माइक्रो{3}फोकस एक्स{4}रे तकनीक को अपनाते हुए, यह छोटे दोषों और बारीक संरचनाओं का पता लगाने के लिए शानदार रिज़ॉल्यूशन और विस्तृत 3डी इमेजिंग प्रदान करता है।

उच्च {{0}प्रदर्शन माइक्रो{1}फोकस एक्स{2}रे स्रोत और उच्च{3}रिज़ॉल्यूशन डिटेक्टर से सुसज्जित, यह सूक्ष्म{6}दरारें, रिक्तियां, सरंध्रता, समावेशन और आयामी विचलन की पहचान करने के लिए उच्च{{4}गुणवत्ता, उच्च{5}विपरीत छवियां उत्पन्न करता है, जो सटीक गुणवत्ता नियंत्रण और विफलता विश्लेषण के लिए आदर्श है।

कॉम्पैक्ट स्थिर यांत्रिकी, सटीक गति नियंत्रण और लचीले स्कैनिंग मोड की विशेषता के साथ, इसका व्यापक रूप से इलेक्ट्रॉनिक्स, अर्धचालक, चिकित्सा उपकरणों, एयरोस्पेस भागों, एडिटिव विनिर्माण और सूक्ष्म स्तर के निरीक्षण की आवश्यकता वाले सामग्री अनुसंधान में उपयोग किया जाता है।

स्वयं विकसित सीटी सॉफ्टवेयर द्वारा संचालित, यह तेज स्कैनिंग, उच्च गुणवत्ता वाले 3डी पुनर्निर्माण, बुद्धिमान दोष विश्लेषण और सटीक माप का समर्थन करता है। उपयोगकर्ता के अनुकूल संचालन और स्वचालित वर्कफ़्लो निरीक्षण दक्षता और विश्वसनीयता को काफी हद तक बढ़ाते हैं।